產品詳情
簡單介紹：
XUA膜厚儀是一款一機多用型光譜儀，鎳層測厚儀應用了EFP算法和微光聚集技術，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析。被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用臺式膜厚儀。
詳情介紹：
XUA膜厚儀是一款一機多用型光譜儀，鎳層測厚儀應用了EFP算法和微光聚集技術，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析。被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用臺式膜厚儀。
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